離子分子質(zhì)譜儀的主要用途和送樣時(shí)注意事項

2021-11-15

　　離子分子質(zhì)譜儀工作耐壓值高，脈動(dòng)小、穩定可靠。進(jìn)樣器與整機分體式模式，具有良好的抗干擾性和可拓展性。接頭、流路均使用進(jìn)口Peek材料，耐強酸強堿。連續自動(dòng)再生電化學(xué)抑制器，抑制容量高。高分辨率觸摸屏配有WinCE操作系統，以及全中/英文顯示的數據處理系統。

　　離子分子質(zhì)譜儀的主要用途：

　　1.摻雜劑與雜質(zhì)的深度剖析。

　　2.薄膜的成份及雜質(zhì)測定。

　　3.超薄薄膜、淺植入的超高深度辨析率剖析。

　　4.硅材料整體分析，包含B,C,O,以及N。

　　5.工藝工具(離子植入)的高精度分析。

　　6.可以用于材料表面和表層的化學(xué)成份分析?；瘜W(xué)元素或化合物在表面和塊體材料內部的分布。以及生物組織表面和內部成份和分布分析。包括如半導體，生物，冶金，汽車(chē)等領(lǐng)域。

　　離子分子質(zhì)譜儀送樣時(shí)注意事項：

　　1、待測試的樣品表面不能被沾污；

　　2、易潮解，易與空氣發(fā)生反應的樣品，在送樣過(guò)程中應注意隔離空氣；

　　3、用帶蓋的玻璃小試管、小容量瓶等容器裝樣；不要直接使用塑料容器、塑料袋、含硅的膠帶或膠面和紙袋，以免硅樹(shù)脂或纖維污染樣品表面；

　　4、如為揮發(fā)性高分子樣品或具揮發(fā)性覆膜，務(wù)必先自行在真空加熱爐中抽除揮發(fā)性分子；如果樣品置入真空腔后，隔夜無(wú)法抽至5X10E-7torr以下，測試將被取消；

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